深色表面：回波弱，测量不稳定

现象

同一套参数，浅色件测得很好，换成黑色件后点云变得稀疏、噪声明显。加大曝光能改善，但浅色件随即过曝，同一料箱内深浅混装时尤其难以兼顾。

物理原因

哑黑表面的反射率可以低到百分之几，回波强度比浅色件低一到两个数量级。基于强度的方案（结构光、飞行时间）必须从这点微弱信号里提取特征，信噪比迅速恶化。

同时，深色材料常常伴随较强的次表面散射：光进入材料内部散射后再返回，返回位置与入射位置不重合，深度判定因此模糊。

现有方案怎么绕

• 加大激光功率：受人眼安全等级限制，且引出下面"多机与人机共处"那一类新问题
• 延长曝光：节拍变慢，且与浅色件冲突
• 分区多次拍摄：混装料箱里难以事先分区

这不是我们的一家之言。结构光扫描仪厂商在自己的故障排查文档里也是这样描述的：深色表面吸收光线、削弱信号强度，给出的对策同样是喷哑光涂层（原文 “Dark surfaces absorb light, reducing signal strength”，出处）。

我们为什么不受这个限制

相干探测的信噪比不直接取决于回波的绝对强度。回波与本振光混频后，信号幅度正比于两者振幅之积。本振光的功率由我们自己决定，因而混频能有效放大微弱回波。通信与雷达领域长期采用相干接收，也是同一个理由。

实际效果是：深色与浅色件可以在同一组参数下一起采集，不需要分区或多次曝光。

实测

毛绒玩具的扫描件里既有高饱和染色区也有硬结构，可以看到两者在同一次采集中的表现。