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LUC 感知套件

三款精密测量产品:单点测距、全场深度与全景扫描

三种测量尺度

从一束光在远处的微小位移,到整片视场的稠密深度,再到大尺寸物体的全景三维建模。

  • LUC-VISION™:全表面 RGBD,反光与透明表面一致成像
  • LUC-POINT™:单点精密测距,100 米处 ±0.1 毫米
  • LUC-SPHERE™:全景精密扫描,20 米处 50 µm 距离精度

方案匹配中的六类失效场景均由 LUC-VISION™ 覆盖,实测案例中的点云也全部由它采集。

技术特征

相干测量:LUC-VISION™ 与 LUC-POINT™ 的判据是回波的频率而非强度,因而不受表面反射特性与环境光支配。

硅光集成:以标准半导体工艺制造,随产线规模化。

按行业看

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硅光子

芯片级集成

全表面

反光 · 透明 · 深色

瞬时速度

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